Chroma 3650 は、柔軟な構成を備えたさまざまなタイプのデバイス用のテスト アプリケーションで、特に電源管理チップおよび IC のテストに適しています。さまざまな VI、HDDPS2、HVVI、PVI100、MPVI ボードを備えた 3650 は、高精度、高電圧、高電流のテスト要件を満たすことができます。 Chroma 3650 テスターは高速かつ並列テスト機能を備えており、非チップ製造会社、IDM、テスターに最もコスト効率の高いソリューションを提供します。
完全なテスト機能、高精度、強力なソフトウェア ツール、優れた信頼性を備えた Chroma 3650 は、すべての高性能デバイス、マイクロコントローラー、IC、民生用 SoC デバイス、ウェーハ選別アプリケーションのテスト ソリューションです。
Chroma 3650 は高速かつ高度な並列テスト向けに特別に設計されており、非チップ製造会社、IDM、テスターに最もコスト効率の高いソリューションを提供します。包括的なテスト範囲、高精度、強力なソフトウェア ツール、および優れた信頼性を備えた Chroma 3650 は、電源管理デバイス、アナログ デバイス、MCU 化合物およびデバイスのテストに最適です。
Chroma 3650 は、高密度、広い電圧および電流供給範囲、高精度測定、最大 768 ピンのデジタル I/O、VI ピン、およびアナログ テスト機能により、コスト効率の高いテスト ソリューションで優れたテスト パフォーマンスと高スループットを実現します。
多目的テスト ピンを備えた Chroma 3650 は、複数のピンで同じパラメトリック テストを同時に実行できます。 Chroma 3650 は、単一の LPC ボード上に 64 個のデジタル ピンを統合します。各 LPC ボードには 16 個の高性能 PINF IC が含まれており、4 つのクロッキング チャネルをサポートします。
統合された制御回路がリソースの割り当てと結果の読み出しを管理し、システム コントローラーの作業負荷を軽減します。 Chroma 3650 の任意のピンから任意の位置へのマッピング設計により、最大 32 の位置での高スループットの並列テストが可能になり、バッチ テスト、レイアウトの柔軟性、視覚化が強化されます。
半導体業界は急速に進化しており、所有コストに見合った価値のあるデバイスを複数の世代とアプリケーションにまたがって構築する必要があります。 AD/DA コンバータのテスト、メモリ テスト用の ALPG、高電圧 PE、多様なスキャン チェーン テスト、および同様のオプションなどの複数のオプションを備えた Chroma 3650-S2 は、今後何年にもわたって役立つことを保証します。
Chroma 3650 のプラットフォーム アーキテクチャにより、特定のアプリケーション向けにサードパーティ ベンダーが開発した特殊なツールを簡単に統合できます。このシステムは、さまざまなデバイスに対応でき、低コストの生産検査システムです。
コンパクトな空冷設計の Chroma 3650 は、最小限の床面積で高速な統合機能を提供します。さまざまなコントローラーを使用すると、Chroma 3650 はパッケージ製品検査とウェハー検査の両方に使用できます。
Chroma 3650 には、「Chroma Integrated Software Platform」（CRISP）を使用した強力なソフトウェア ツールセットが搭載されています。 CRISP は、使いやすいテスト プログラミング機能に加えて、テストのデバッグ、運用、データ分析のすべてのニーズを提供します。また、CRISP は、テスト プログラムのプログラミング、テスト実行の制御、データ分析、テスト マシン管理のためのすべてのソフトウェア機能を単一のソフトウェア スイートに統合します。 Microsoft Windows オペレーティング システムと C++ プログラミング言語に基づいた CRISP は、強力で高速かつ直感的なユーザー インターフェイス ツールをユーザーに提供します。 IDE プロジェクト ツールでは、テスト開発者は標準テンプレート、ユーザー定義テンプレート、C++ コードベースのエディターを簡単に切り替えて、マルチサイトの並列テストにまで及ぶテスト プログラムを迅速かつ自動的に作成できます。さらに、CRISP は、他のテスト プラットフォームから 3650 形式にテストを簡単に変換するためのテスト プログラムおよびテスト テンプレート変換ツールを提供します。
テスト プログラム実行コントローラーには、システム コントロール ツールとプラン デバッガー ツールの 2 つの切り替え可能なツールが装備されており、ユーザーは通常モードまたはデバッグ モードでより効率的に操作できます。 Plan Debbuger ツールでは、ユーザーはブレークポイントの設定、ステップ実行、ステップイン、ステップスルー、実行の再開、変数の監視、変数の編集によってテスト プログラムの実行を制御できます。テストのデバッグとデータ分析のために、CRISP はさまざまなソフトウェア ユーティリティ ツールを提供します。データログ、波形、およびスコープのツールは、デジタル波形と測定データの明確な表示をサポートするように設計されています。パラメータ マージンを見つけるために、SHMOO ツールと Pin Margin ツールを使用すると、自動モードまたは手動モードで簡単にデバッグを実行できます。ウェーハ マップ、サマリー、ヒストグラム、および STDF ツールは、テスト結果を収集し、効果的なパラメトリック特性を分析するのに役立ちます。
テスト コンディショニング モニターおよびパターン エディター ツールは、リアルタイム デバッグのためのすぐに使える機能を提供し、ユーザーはテストやファイル ソースの編集を中断することなく、テスト条件やサンプル データを変更できます。 CRISP には、アナログおよび ALPG オプション用の ADDA ツールとビット マップ ツールも付属しています。 ADDA ツールを使用すると、ユーザーは AD/DA テスト結果をグラフィカルに表示できるだけでなく、独自の ADC サンプルを簡単に作成することもできます。この強力で包括的な GUI ツールキットは、テストのデバッグとテスト レポートの生成に関連するすべてのニーズに確実に応えます。
OCI Tools は、CRISP の大量生産向けソリューションです。生産プロセスで最も重要な要件である、簡単かつ正確な操作を可能にします。プログラマは、実稼働前環境の要件を満たすように、「実稼働セットアップ」メニューを使用して OCI エンジンを調整できます。オペレーターは目的の工程を選択するだけで量産を開始できます。
Chroma 3650 は、GPIB および TTL インターフェイスを介してプロセッサおよびプローブとインターフェイスするための複数のドライバーを提供します。サポートされているプロセッサーとトランスデューサーには、CHROMA、SEIKO-EPSON、HONTECH、SHIBASOKU、MULTITEST、ASECO、DAYMARC、TEL、TSK、OPUS が含まれます。さらに、3650 は既存のテスト プラットフォーム用の変換ボード ソリューションも提供し、テスト プラットフォームの移行を促進し、ユーザーのコストを削減します。このアダプター ボードを使用すると、3650 が他のテスターの DIB カードとプローブ カードを直接受け入れることができるため、新しいロード ボードとプローブ カードの製造コストを節約できます。
カスタム アプリケーションを設計する
Chroma は、新規顧客と既存顧客の両方にアプリケーション導入サポートを提供します。ご要望に応じて、Chroma はお客様の特定のニーズに基づいてカスタマイズされたサポートを提供できます。生産量の増加、新興市場の機会の活用、生産性の向上、または革新的な戦略による検査コストの削減が必要な場合でも、Chroma のグローバル カスタマー サポート チームは、お客様にタイムリーで効果的なソリューションを提供することに尽力しています。
メンテナンス ：
► 一定期間ご使用後は、弊社購入店にて再校正を行ってください。 ベトナム現地：SEMIKI CORP
配布元:
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