複数のデバイスを同時にテストする機能
多目的テスト ピンを備えた Chroma 3650-S2 は、複数のピンで同じパラメトリック テストを同時に実行できます。 Chroma 3650-S2 は、単一の LPC ボード上に 64 個のデジタル ピンを統合しています。各 LPC ボードには 16 個の高性能 PINF IC が含まれており、4 つのクロッキング チャネルをサポートします。
統合された制御回路がリソースの割り当てと結果の読み出しを管理し、システム コントローラーの作業負荷を軽減します。 Chroma 3650-S2 の任意のピンから任意の位置へのマッピング設計により、最大 32 の位置での高スループットの並列テストが可能になり、バッチ テスト、レイアウトの柔軟性、視覚化が強化されます。
柔軟性
半導体業界は急速に進化しており、所有コストに見合った価値のあるデバイスを複数の世代とアプリケーションにまたがって構築する必要があります。 AD/DA コンバータのテスト、メモリ テスト用の ALPG、高電圧 PE、多様なスキャン チェーン テスト、および同様のオプションなどの複数のオプションを備えた Chroma 3650-S2 は、今後何年にもわたって役立つことを保証します。
Chroma 3650-S2 のプラットフォーム アーキテクチャにより、特定のアプリケーション向けにサードパーティ ベンダーが開発した特殊なツールを簡単に統合できます。このシステムは、さまざまなデバイスに対応でき、低コストの生産検査システムです。
コンパクトサイズ
Chroma 3650-S2 は、コンパクトな空冷設計により、最小限の床面積で高速な統合機能を提供します。さまざまなコントローラーを使用すると、3650-S2 はパッケージ製品の検査とウェーハ検査の両方に使用できます。
メイン機能
- デジタル、アナログ、混合信号アプリケーション用の 12 個の汎用スロット
- 最大 768 個のデジタルおよびアナログ I/O ピン
- クロック速度 50/100MHz
- データレート 100 / 200 Mbps (MUX)
- エッジ配置精度 ±300ps
- 32 MW ベクトル メモリ
- 32 MW サンプル コマンド メモリ
- 各ピンの周波数/PPMUを測定
- スキャンチェーンごとに2Gの深さまでスキャンする機能
- メモリテスト用のALPGオプション
- 最大 48 本の高電圧 I/O ピン
- 多くの VI 浮遊土地資源
- HDDPS2 DPS オプションの場合は 64 チャネル/ボード
- HVVI アナログ オプションの場合は最大 3000V (スタック型)
- 8 つの AWG チャネルと 8 つのデジタイザ チャネルを備えた ASO 混合信号オーディオ帯域テスト オプション
- MPVI アナログ オプションの場合、60V で 40A パルス
- VI45 アナログ オプションの場合は 32 チャンネル/ボード
- PVI100アナログオプション用の8チャンネル/ボード
- ロードボード（LB）上のコンポーネントの面積を大幅に増加
- テスター用電源の大型化
- Microsoft Windows® 7 / Windows® 10 オペレーティング システム
- C++ プログラミング インターフェイスと GUI
- CRISP (完全な視覚化ソフトウェア ツールキット)
- 他のプラットフォームからのテスト プログラムとテスト テンプレートのコンバーター
- アダプターを追加することで、他のテスターのDIBカードやプローブカードを使用可能
- STDFデータのエクスポートをサポート
- 空冷、コンパクトサイズ
強力なソフトウェア ツールキット – CRISP
Chroma 3650-S2 には、「Chroma Integrated Software Platform」（CRISP）を使用した強力なソフトウェア ツールセットが搭載されています。 CRISP は、使いやすいテスト プログラミング機能に加えて、テストのデバッグ、運用、データ分析のすべてのニーズを提供します。また、CRISP は、テスト プログラムのプログラミング、テスト実行の制御、データ分析、テスト マシン管理のためのすべてのソフトウェア機能を単一のソフトウェア スイートに統合します。 Microsoft Windows オペレーティング システムと C++ プログラミング言語に基づいた CRISP は、強力で高速かつ直感的なユーザー インターフェイス ツールをユーザーに提供します。 IDE プロジェクト ツールでは、テスト開発者は標準テンプレート、ユーザー定義テンプレート、C++ コードベースのエディターを簡単に切り替えて、マルチサイトの並列テストにまで及ぶテスト プログラムを迅速かつ自動的に作成できます。さらに、CRISP は、他のテスト プラットフォームから 3650-S2 形式にテストを簡単に変換するためのテスト プログラムおよびテスト テンプレート変換ツールを提供します。
テスト プログラム実行コントローラーには、システム コントロール ツールとプラン デバッガー ツールの 2 つの切り替え可能なツールが装備されており、ユーザーは通常モードまたはデバッグ モードでより効率的に操作できます。 Plan Debbuger ツールでは、ユーザーはブレークポイントの設定、ステップ実行、ステップイン、ステップスルー、実行の再開、変数の監視、変数の編集によってテスト プログラムの実行を制御できます。テストのデバッグとデータ分析のために、CRISP はさまざまなソフトウェア ユーティリティ ツールを提供します。データログ、波形、およびスコープのツールは、デジタル波形と測定データの明確な表示をサポートするように設計されています。パラメータ マージンを見つけるために、SHMOO ツールと Pin Margin ツールを使用すると、自動モードまたは手動モードで簡単にデバッグを実行できます。ウェーハ マップ、サマリー、ヒストグラム、および STDF ツールは、テスト結果を収集し、効果的なパラメトリック特性を分析するのに役立ちます。
テスト コンディショニング モニターおよびパターン エディター ツールは、リアルタイム デバッグのためのすぐに使える機能を提供し、ユーザーはテストやファイル ソースの編集を中断することなく、テスト条件やサンプル データを変更できます。 CRISP には、アナログおよび ALPG オプション用の ADDA ツールとビット マップ ツールも付属しています。 ADDA ツールを使用すると、ユーザーは AD/DA テスト結果をグラフィカルに表示できるだけでなく、独自の ADC サンプルを簡単に作成することもできます。この強力で包括的な GUI ツールキットは、テストのデバッグとテスト レポートの生成に関連するすべてのニーズに確実に応えます。
OCI Tools は、CRISP の大量生産向けソリューションです。生産プロセスで最も重要な要件である、簡単かつ正確な操作を可能にします。プログラマは、実稼働前環境の要件を満たすように、「実稼働セットアップ」メニューを使用して OCI エンジンを調整できます。オペレーターは目的の工程を選択するだけで量産を開始できます。
