Dụng cụ kiểm tra không phá hủy sử dụng tia X để xâm nhập vật liệu. Bao gồm cả dụng cụ chiếu tia fluoroscopy và dụng cụ CT, có khả năng tạo ra các hình ảnh chụp cắt lớp và thực hiện quan sát 3-D. Các hình ảnh thu được từ phút tia X tập trung phân giải cao phóng đại. Những dụng cụ này chủ yếu là kính hiển vi, cho phép chúng ta nhìn vào bên trong vật liệu mà không huỷ hoại chúng.
Shimadzu đã cho ra đời thiết bị phát tia X đầu tiên sử dụng trong công nghiệp vào năm 1933 và hiện đã có hơn nửa thế kỷ kinh nghiệm trong lĩnh vực này. Đội hình hiện tại của chúng tôi phản ánh kinh nghiệm phong phú này, và các công cụ của chúng tôi đang góp phần nâng cao chất lượng và đảm bảo sự an toàn trên toàn thế giới.
Một tính năng chính của các sản phẩm này là độ sắc nét xuất sắc của những hình ảnh mà họ sản xuất. Đây là kết quả của chuyên môn của Shimadzu trong việc tạo ra tất cả ba thành phần chính: máy phát tia X, máy dò tia X và công nghệ xử lý hình ảnh. Một tính năng chính của các công cụ này là thiết kế thân thiện với người sử dụng của họ. Tất cả các dụng cụ mới của chúng tôi có thể thực hiện định vị quan sát qua hình ảnh bên ngoài, cho phép người vận hành tập trung vào màn hình kiểm tra. Hơn nữa, bằng cách loại bỏ sự cần thiết cho các loại hiệu chuẩn và tự động hóa càng nhiều nhiệm vụ càng tốt, các thiết bị này đã được thiết kế để mọi người có thể dễ dàng tạo ra hình ảnh rõ ràng.
Pic: Semiki instructs customers to use shimadzu machine SMX-1000PLUS
Software interface of SMX-1000PLUS to test PCB board
———————————————————————————————————
SPECTATION :
Operations such as positioning, zoom-in and zoom-out can be performed directly by touching the large touch screen, enabling anyone to operate the system immediately and improve efficiency.
Solution System Packages :
The Metal Artifact Reduction Software is a reconstruction software program used to reduce metal artifacts in the cross-sectional images acquired using Shimadzu’s micro-focus x-ray computed tomography system, inspeXio SMX-225CT FPD HR. This software allows for easier and more accurate analyses in the cross-sectional images.
分光法およびX線装置
実験装置、分光装置、X線
分光法およびX線装置
紫外線強度測定装置、分光装置、X線装置
分光法およびX線装置
実験装置、分光装置、X線
分光法およびX線装置
比色計、実験装置、分光光度計、X線装置
