コイル製品の小型化と高周波技術に対する高度な要件に対応して、DWX テスターは、ハイエンド電子部品で使用される他のコイルや低インダクタンスをテストするように設計されています。 DWXテスタは、高速スイッチングを備えたパルスソース、高効率入力回路、高速A/Dサンプリング回路の採用により、インダクタショートの新たなソリューションを提供します。
10msでテストされる超低インダクタンス、高速1μHコイルテスター。この機械はコイルの絶縁を測定するために使用できます。
| DWX-300LI | DWX-01LI | DWX-05A | |
|---|---|---|---|
| 応用 | 正確なテスト | 超低インダクタンス | 通常のコイル部品全般 |
| 最小 | 0.1μH～10mH | 0.1μH～10mH | 10μH～100mH |
| 最大 | 3～300V | 10～1200V | 5000V |
| 設定電圧 | 0.3V | 1.2V | 100V |
| 最大 | 300V時 1μH | 1000V時1μH | 1000V時 10μH |
| 波形 | 200MHzかなり | 100MHz | |
| 最小テスト時間 （1パルス印加時） |
HIスピードモード 判定なし 10msec 判定18msecあり |
テストモード 画面表示なし 53ミリ秒 画面表示あり 108msec |
200ミリ秒 |
| 判定 関数 |
エリア(Area%)、波形差分エリア(Dif Area)、 ピーク電圧 (Peak Stb%) 放電レベル（ラプラシアン）、 波形消光比（Laplacian%） 耐電圧評価試験（BDV） 手動による耐圧評価試験 (マニュアルBDV) |
エリア（エリア） 波形差分領域（Dif Area） 電荷量（フラッター） 放電レベル（ラプラシアン） |
|
| 試験回路 | 試験回路 | 2端子 | |
| テストケーブル範囲 | 推奨1.5m（最大3m） | 推奨1.6m （最長3m） |
|
| PDテスト | 失敗 | PD対称性 | |
| 追加 関数 |
マスタ波形メモリ数 196機種、拡張RS-232CとI/O、CFメモリカードによる外部制御、結果ログ保存、画面ハードコピー保存 | ||
| 外部I/O 制御信号 |
インプレッショントリガー（Trig）、高速インターフェースタイミング 検査用ヘアドライバーに対応 |
試験開始(Start)、試験中 （忙しい）など。 ,外部制御 |
|
| 外形寸法 | 345(W)×185(H)×360(D) | ||
| アクセサリー | 4端子試験ケーブル1.5m | 検査ケーブル1.6m | |
| 電源 | AC100/115/220/240 ±5% 変更可能 | ||
メンテナンスと校正:
► 校正証明書も添付しております（オプション）
► 一定期間ご使用後は、弊社購入店にて再校正を行ってください。
配布元:
セミキ計装株式会社
電子メール: sales@semiki.com
オフィスの電話番号: +84 28 2253 3522
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