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X線CT 3D CTスキャナ NIKON XT-V-160、XT-V -130C

ロング・ヴー 06/01/2020 コメントはまだありません

NIKON X-ray and CT technology for electronics inspection : There is an increasing demand for ﬂexible, high-resolution and cost-effective X-ray inspection systems to cope with the evolution of ever-shrinking geometries…

NIKON iNEXIV VMAシリーズ 3点測定機

ロング・ヴー 04/01/2020 コメントはまだありません

nikon CNC Video measuring systems Designed to meet demanding manufacturing requirements with automated measurements of mechanical parts, electronic devices, dies & molds and medical devices. The iNEXIV VMA series is…

ニコンデジマイクロ MF-1001 / MF-501 / MH-15M

ロング・ヴー 23/09/2019 コメントはまだありません

The nikon DIGITAL LENGTH MEASURING SYSTEM DIGIMICRO MF-1001 / MF-501/ MH-15M is a compact digital micrometer offering flawless contact measurements of dimensions, thickness and depth. It features a measuring length…

NIKON ハロゲンセラミックベース MXA23045 – 12V/50W ニコン顕微鏡用

ロング・ヴー 17/12/2018 コメントはまだありません

12V/50W ハロゲンセラミックベース

ニコン測定顕微鏡 MM-400、MM-800 納入詳細

ロング・ヴー 14/12/2017 コメントはまだありません

ニコンは、高度な測定顕微鏡に期待される重要な機能を組み込んだ測定顕微鏡 MM-400/800 シリーズを発表できることを誇りに思っています。

NIKON MM-200 測定顕微鏡

ロング・ヴー 07/09/2016 コメントはまだありません

NIKON Japan high precision measuring microscope model: MM-200 The MM-200 is Nikon’s most compact, high precision measuring microscope designed for accurate component feature measurement against a plan.…

ニコンプロファイルプロジェクター V-20B/V-12B

ロング・ヴー 07/09/2016 コメントはまだありません

Nikon's benchtop optical comparator with enhanced features for improved precision and ease of operation. Nobody knows better than Nikon how to combine greater precision with easier operation; so you can…

自動三次元測定機 NIKON NEXIV VMZ-Rシリーズ

ロング・ヴー 07/09/2016 コメントはまだありません

NEXIV VMZ-R- Higher speeds and greater precision than ever before Magnification, AF and illumination conditions can be finely adjusted for each specimen. VMZ-R3020 offers a 300 x 200 mm stroke…

品質保証 (QA) と品質管理 (QC): 違いは何ですか?

ブイヒエン 15/07/2024 コメントはまだありません

QAQCとは何ですか?品質保証と品質管理の略です。これは測定に使用される方法の組み合わせです…

測定顕微鏡とは何か、製品の品質検査への応用

ロング・ヴー 17/06/2024 コメントはまだありません

2次元計測・解析機能アペンド機能を使わずに、離れた2地点間の距離を計測する機能です。

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